Private company

Nanometrics

Logo: Unknown author Unknown author, Public domain, via Wikimedia Commons4

Nanometrics is an American company based in Milpitas, founded in 1975.1

Nanometrics Incorporated war ein US-amerikanisches Unternehmen, das Geräte zur Inspektion und Produktionsüberwachung von Halbleiterprodukten herstellt. Darunter befinden sich System für die Messung von Oberprofilen mittels Scatterometrie, dem Overlay-Versatz sowie Eigenschaften wie die Dicke oder dem Brechungsindex von dünnen Schichten, die auf ein Substrat, z. B. ein Wafer, aufgebracht wurden, vgl. Ellipsometrie und Reflektometrie. Wettbewerber in diesem Bereich sind u. a. KLA Corporation und Rudolph Technologies.2 From the German Wikipedia, CC BY-SA 4.0

Last updated Oct 21, 2026.

Overview

1975Founded1

Timeline

  1. 1975Founded Founded1

Sources

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